• 测试芯片EDA&IP
  • SmtCell 功能强大的参数化单元创建工具
  • TCMagic 通用型的测试芯片版图自动化设计平台
  • ATCompiler 可寻址测试芯片设计平台
  • Addressable IP 可寻址测试芯片
  • ICSpider 产品芯片成品率和性能诊断
  • Dense Array 超高密度测试芯片设计及快速测试技术
  • HDYS 高密度工艺监测电路IP
• DATAEXP大数据分析平台
  • DE-G 专业、灵活、高效‌的通用型统计分析平台
  • DE-YMS 半导体制造全流程数据管理分析系统
  • DE-DMS 缺陷管理分析系统
  • INF-AI 为半导体量身定做的模型训练、评估、上线全流程智能平台
  • INF-ADC 自动缺陷分类系统
  • INF-WPA 智能高效的晶圆缺陷图案分析系统
  • DE-RF RF数据分析软件
  • DE-FDC 设备监控系统
  • DE-SPC 统计过程控制系统
  • DE-Alarm 智能良率、品质异常检测及报警系统
  • DE-iCASE 半导体缺陷异常智能化诊断系统
  • DE-DN 半导体缺陷通知和管理系统
  • SemiMind 基于大语言模型的半导体行业智能专家
  • DE-FBM 存储芯片失效模式分析智能系统
  • INF-TPC 基于无监督机器学习的机台trace实时异常检测系统
  • QuickRoot AI增强的快捷根因分析及溯源系统
  • AutoInk 车规级芯片筛选工具
  • INF-iMetrology AI智能量测工具
  • AI DE-G AI数据分析专家
  • SemiAgent 企业级数字员工平台
• DFM软件
  • CMPEXP 高效CMP建模与仿真工具
  • Virtual Yield 芯片良率建模工具
  • PatternScan 高性能版图可视化图形匹配工具
  • LayoutVision 强大的版图集成与分析平台
  • LayoutInsight 高效的芯片器件版图几何特性和类型分析工具
• DFT软件
  • QuanTest 可测性设计自动化和成品率诊断解决方案
  • QuanTest-YAD 良率感知的大数据诊断分析平台

晶圆级电性参数测试设备
• 晶圆级WAT测试设备
  晶圆级电学参数测试设备，为客户提供准确且高度自动化的测试解决方案，用于高效监控工艺
• 晶圆级WLR测试设备
  晶圆级可靠性(WLR)测试设备，快速准确评估元器件是否能保持其电性规格高一致性的能力
• 工艺开发测试设备
  应用于技术研发阶段，大幅提升测试效率和精度
• IM电竞晶圆级老化测试系统
  高效·稳定的晶圆级老化系统

• 成品率提升服务（Yield Ramp Service)
  为新工艺节点开发提供定制化服务，实现工艺开发周期的缩短和成品率的提升
• DFT 设计服务 （DFT Design Service）
  DFT（Design for Test）技术作为业界的标准手段，通过在芯片设计时加入测试专用电路，增加芯片的可测试性

• LayoutVision Lite
  高性能的版图查看工具